Mikro-Forum

Bibliothek => Mikro-Know-How => Thema gestartet von: Adalbert in Mai 11, 2017, 22:20:28 NACHMITTAGS

Titel: bitte löschen, danke !
Beitrag von: Adalbert in Mai 11, 2017, 22:20:28 NACHMITTAGS
bitte löschen, danke !
Titel: Re: Kleine Entfernungen mit Zerene messen
Beitrag von: Bob in Mai 12, 2017, 08:18:49 VORMITTAG
Hallo Adi,

hast Du die Methode mal mit einer bekannten Referenz überprüft, einem Objektmikrometer z.B.?
Ich werde immer etwas kribbelig, wenn ich mich auf Messergebnisse verlassen muss, die auf so einem recht indirekten Weg entstanden sind.

Viele Grüße,

Bob
Titel: Re: Kleine Entfernungen mit Zerene messen
Beitrag von: Rawfoto in Mai 12, 2017, 11:53:14 VORMITTAG
Hallo Bob

Wenn man die Entfernungen messen möchte gibt es im klassischen Umfeld Messuhren mit 0,001 mm als kleinsten Teilschritt ...

Das ist meiner Erfahrung nach ausreichend für das Sacken mit dem Mikroskop aus Sicht der Messung. Für das 100x Objektiv verwende ich 5 Schritte pro 0,001 mm, dabei hat man schon eine deutliche Überdeckung in der Schärfenzone ...

Liebe Grüße

Gerhard
Titel: Re: Kleine Entfernungen mit Zerene messen
Beitrag von: Stuessi in Mai 12, 2017, 12:16:58 NACHMITTAGS
Hallo Adi,

wenn ich bei 50-facher Vergrößerung mit meiner A6000 messen will, komme ich nicht in den Bereich von 2nm:

Pixelpitch ist 23,6mm / 6000  = 3,93 µm  =  3933 nm

1/50 davon ist 78,7 nm

Der Abstand von 2 Pixeln auf dem Kamerasensor enrtspricht also 79 nm Abstand auf dem Objekt.

Die erreichbare Auflösung mit meinem Objektiv beträgt aber sicher nicht 79 nm sondern eher 790 nm ...

Fragende Grüße von
Rolf
Titel: Re: Kleine Entfernungen mit Zerene messen
Beitrag von: Silber_und_Licht in Mai 12, 2017, 19:07:52 NACHMITTAGS
Moin, moin,

ausgehend von einer Lichtwellenlänge von 530-550nm für grünes Licht, erreicht man mit herkömmlichen optischen Mitteln (maximalen Aperturen und Ölimmersion) eine maximale Auflösung von rund 200nm in x/y-Richtung. In z-Richtung ist dieser Wert mit ca. 2,5 zu multiplizieren. Ein jeder Mikroskopiker weiß, dass man im Bereich rund um die Auflösungsgrenze keine Morphometrie betreiben sollte und verlässliche Messwerte erst eine Größenordnung darüber zu erwarten sind. Da mutet es mich schon etwas eigenartig an, wenn man sich bei einer Messung wie angegeben (2nm) rund zwei Größenordnungen unter der Auflösungsgrenze tummeln möchte. Selbst mit Interferenzmessungen erreiche ich eine Genauigkeit von etwa 1/50stel der verwendeten Wellenlänge, was im Fall der oben aufgeführten 550nm auf rund 10nm hinausläuft. Immer noch ziemlich weit von den zu erreichenden 2nm entfernt.

Ich glaube, ich würde zu anderen Mitteln greifen wollen

Ich wollte das nur mal so zum Nachdenken in die Diskussion werfen.

Freundliche Grüße zum Wochenende

Wolfgang

p.s.: die physikalisch begrenzte maximale Auflösung höchstaperturiger Ölimmersions-Objektive in z-Richtung lässt mich auch manchmal etwas fragend/staunend auf die feinst abgestuften Stackschritte mancher Makro-Photographen schauen.
Titel: Re: Kleine Entfernungen mit Zerene messen
Beitrag von: Stuessi in Mai 28, 2017, 10:01:31 VORMITTAG
Zitat von: Adalbert in Mai 26, 2017, 14:02:41 NACHMITTAGS... 50x war nur ein Beispiel. Du kannst ruhig 100x nehmen.
Probiere einfach aus.

Hallo ADi,

zunächst brauche ich eine Vorrichtung, mit einem Mikroskop und 50-er oder 100-er Objektiv einen kleinen Punkt senkrecht zur Stack-Bewegungsrichtung richtig scharf abzubilden.
Die Auflösung muss dabei im Nanometer Bereich liegen?!

Wie groß soll der Punkt sein?

Wie sieht Dein  Aufbau aus?

Gruß
Rolf
Titel: Re: Kleine Entfernungen mit Zerene messen
Beitrag von: Stuessi in Mai 28, 2017, 20:22:46 NACHMITTAGS
Hallo ADi,

mit einem Leitz L50x/0,6 (f=5mm) vor einem 200mm/4 Objektiv mit 2x Konverter an der A6000 (APS-C, 4000x6000 Pixel) habe ich ein Objektmikrometer fotografiert bei Stackschritten von ca. 1 µm an meinem Orthoplan mit der hier abgebildeten fischertechnik Steuerung (altes Bild, vor kosmetischer Veränderung des Mikroskops).

(https://www.mikroskopie-forum.de/pictures007/215948_18311430.jpg) (http://s618.photobucket.com/user/Stuessi/media/Sonstiges/b-vorher_zpslb8m09pg.jpg.html)

(https://www.mikroskopie-forum.de/pictures007/215948_12571157.jpg) (http://s618.photobucket.com/user/Stuessi/media/Sonstiges/b900-DSC05372_zpswxt1ondr.jpg.html)

Die Vergrößerung beträgt 2*200/5 = 80x.
Der Abstand zweier Pixel auf dem Sensor entspricht etwa 50 nm beim Objektmikrometer.

100% Ausschnitte der ersten drei Bilder:

Im Skalenstrich ist eine kleine Öffnung zu sehen. Wegen der begrenzten Auflösung von ca. 500 nm ist der helle Fleck verwaschen auf einen Kreis mit ca. 15 Pixeln Durchmesser. Sein Zentrum lässt sich aber mit einer Genauigkeit von +/- 1 Pixel (+/- 50 nm) bestimmen. Die entsprechenden Werte habe ich eingetragen.


(https://www.mikroskopie-forum.de/pictures007/215948_45655405.jpg) (http://s618.photobucket.com/user/Stuessi/media/Sonstiges/a-Zerene-00_zpsnv9ltstj.jpg.html)


(https://www.mikroskopie-forum.de/pictures007/215948_59932304.jpg) (http://s618.photobucket.com/user/Stuessi/media/Sonstiges/a-Zerene-01_zpslvc0wa7d.jpg.html)


(https://www.mikroskopie-forum.de/pictures007/215948_41305383.jpg) (http://s618.photobucket.com/user/Stuessi/media/Sonstiges/a-Zerene-02_zpsxd9tiruh.jpg.html)

(95-67) Pixel * 50 nm/Pixel = 1400 nm Verschiebung

(67-44) Pixel * 50 nm/Pixel = 1150 nm Verschiebung...





Von Bild zu Bild habe ich an zwei Bildstellen die Lage markanter Punkte (in Pixeln) visuell bestimmt und daraus die Hubhöhe errechnet. Die gemittelten Ergebnisse sind in der 2. Spalte zu sehen. Unterschiede von über 10% zwischen den beiden Messungen sind dabei möglich (3. Spalte).

In der 4. Spalte sind die mit dem oben beschriebenen Verfahren ermittelten Stackschrittweiten eingetragen.

Die 5. Spalte zeigt den Unterschied zwischen den beiden Messverfahren.

Bild-Nr.   Hub (D,G)   D-G   Zerene   Unterschied
            µm                       µm            %
0            
1          1,39           0%   1,35     3%
2          1,09           9%   1,13     -4%
3          0,99           0%   0,97     2%
4          1,17         -4%    1,22     -4%
5          0,79          13%   0,79     0%
6          1,17         -13%   1,14     2%
7          0,74          13%   0,78    -5%
8          0,92          -5%   0,92     0%
9          0,99           0%   0,99     1%
10         0,92          5%   0,94    -2%

Bei meinem Vergleich stimmen die Ergebnisse der beiden Messverfahren mit einer Unsicherheit von +/- 5% überein,
das entspricht +/- 50 nm.

Viele Grüße,
Rolf