Lackuntersuchungen mit Auflicht-HF; -Pol; -Fluoreszenz

Begonnen von Klaus Herrmann, November 13, 2011, 11:47:30 VORMITTAG

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Rawfoto

Hallo Klaus

Auch wenn ich nicht das Bedürfnis habe es selbst zu versuchen, ich finde den Beitrag sehr interessant und lese gerne mehr davon. Man soll ja bekanntlich nie nie sagen, also wer weiss schon was für Themen in der Zukunft meine Ziele sein werden ...

Liebe Grüße :-)

Gerhard
Gerhard
http://www.naturfoto-zimmert.at

Rückmeldung sind willkommen, ich bin jederzeit an Weiterentwicklung interessiert, Vorschläge zur Verbesserungen und Varianten meiner eingestellten Bilder sind daher keinerlei Problem für mich ...

Microflash

Hallo Klaus,

Sehr schoen, auch klasse Beschreibungen! Haette man den Sachverhalt auch mittles Profilometrie und XPS/SEM (durch Querschnitte) klaeren koennen bezueglich der Schichten und deren Bestandteile?

Beste Gruesse,
Martin

Klaus Herrmann

Danke Martin,

mit der Profilometrie werden Topografien vermessen. Hier aber will man schnell, kostengünstig und mit gewissen Toleranzen (es geht nicht um ein 1/10.tel µm  ;) ) unterschiedliche Lackschichten eindeutig voneinander unterscheiden und deren individuelle Dicke bestimmen.

REM als Methode ist aufwändig, so eine Lackiererei wird sich kein REM ins Labor stellen mit einem hochintelligenten Operator, der sonst nix kann! ;D (Wilfried hör mal bitte weg!)
Da sie hauptsächlich organischer Natur sind müsste man sie besputtern - Low-vacuum würde auch noch gehen - ob sie dann immer gut unterscheidbar sind?

REM ist als Zusatzmethode gefragt, wenn Lackeinschlüsse identifiziert werden sollen, die durch ihre Elementzusammensetzung einen Hinweis geben, was es den sein könnte. Da wird dann "Kriminalistik" betrieben - und der Aufwand kann gerechtfertigt sein, weil bei großen Industrieanlagen Auschuss gleich sehr teuer wird.

Wir hatten im Werkstofflabor natürlich auch REM mit den Analysenzusätzen, aber Lackschichtdicken hat man immer lichtmikroskopisch gemacht. Ich kenne nichts schnelleres für mehrere Lackschichten übereinander. Der einschichtige Elektrotauchlack wird natürlich mit dem Magnetverfahren gemacht. Nach Kalibrierung zeigen die Geräte schnell und zuverlässig - und vor allem zerstörungsfrei - die Schichtdicke an. Hat jeder Meister im Bereich Elektrotauchlack in der Manteltasche.
Mit herzlichen Mikrogrüßen

Klaus


ich ziehe das freundschaftliche "Du" vor! ∞ λ ¼


Vorstellung: hier klicken

Microflash

Zitat von: Klaus Herrmann in November 18, 2011, 22:28:45 NACHMITTAGS
Danke Martin,

mit der Profilometrie werden Topografien vermessen. Hier aber will man schnell, kostengünstig und mit gewissen Toleranzen (es geht nicht um ein 1/10.tel µm  ;) ) unterschiedliche Lackschichten eindeutig voneinander unterscheiden und deren individuelle Dicke bestimmen.

REM als Methode ist aufwändig, so eine Lackiererei wird sich kein REM ins Labor stellen mit einem hochintelligenten Operator, der sonst nix kann! ;D (Wilfried hör mal bitte weg!)
Da sie hauptsächlich organischer Natur sind müsste man sie besputtern - Low-vacuum würde auch noch gehen - ob sie dann immer gut unterscheidbar sind?

REM ist als Zusatzmethode gefragt, wenn Lackeinschlüsse identifiziert werden sollen, die durch ihre Elementzusammensetzung einen Hinweis geben, was es den sein könnte. Da wird dann "Kriminalistik" betrieben - und der Aufwand kann gerechtfertigt sein, weil bei großen Industrieanlagen Auschuss gleich sehr teuer wird.

Wir hatten im Werkstofflabor natürlich auch REM mit den Analysenzusätzen, aber Lackschichtdicken hat man immer lichtmikroskopisch gemacht. Ich kenne nichts schnelleres für mehrere Lackschichten übereinander. Der einschichtige Elektrotauchlack wird natürlich mit dem Magnetverfahren gemacht. Nach Kalibrierung zeigen die Geräte schnell und zuverlässig - und vor allem zerstörungsfrei - die Schichtdicke an. Hat jeder Meister im Bereich Elektrotauchlack in der Manteltasche.

Hallo Klaus,

Danke fuer Deine detaillierte Antwort, das macht Sinn! Ich fragte, da ich mich vor einiger Zeit mit mehrstufigen Glastraegerbeschichtungen befasst habe zur Herstellung von TCOs (transparent conductive oxides) zur Anwendung im Photovoltaik- und OLED-Bereich. Da mussten wir mit groesseren Kanonen zur Analyse herangehen.... :D

Beste Gruesse,
Martin

wilfried48

#19
Zitat von: Klaus Herrmann in November 18, 2011, 22:28:45 NACHMITTAGS
REM als Methode ist aufwändig, so eine Lackiererei wird sich kein REM ins Labor stellen mit einem hochintelligenten Operator, der sonst nix kann! ;D (Wilfried hör mal bitte weg!)
Da sie hauptsächlich organischer Natur sind müsste man sie besputtern - Low-vacuum würde auch noch gehen - ob sie dann immer gut unterscheidbar sind?

REM ist als Zusatzmethode gefragt, wenn Lackeinschlüsse identifiziert werden sollen, die durch ihre Elementzusammensetzung einen Hinweis geben, was es den sein könnte. Da wird dann "Kriminalistik" betrieben - und der Aufwand kann gerechtfertigt sein, weil bei großen Industrieanlagen Auschuss gleich sehr teuer wird.

Wir hatten im Werkstofflabor natürlich auch REM mit den Analysenzusätzen, aber Lackschichtdicken hat man immer lichtmikroskopisch gemacht.

Hallo Klaus,

wenn die REM Operateure wenigstens hochintelligent wären, aber oft sitzen sie an ihrem Millionengerät
mit der vorgefassten Meinung mit einem teuren Gerät auf jeden Fall die besten Ergebnisse zu liefern.

REM braucht man nur da, wo es richtig auf Auflösung ankommt oder wenn man lokale chemische Informationen
braucht.

Ansonsten sieht man im Lichtmikroskop wegen den vielseitigen Kontrastarten und der Farbinformation meist mehr.

viele Grüsse
Wilfried

P.S.: Obwohl ich zugeben muss, dass seit man unter REM Beobachtung mit dem fokkusierten Ionenstrahl (FIB) Schnitte in die Oberfläche machen kann bei uns das meiste mit dem FIB/REM gemacht wird, sofern der Kunde es sich leisten kann und will. Trotzdem wundere ich mich immer wieder wie wenig neues man im REM erfährt wenn am vorher schon am Lichtmikroskop war  ;)
vorzugsweise per Du

Hobbymikroskope:
Zeiss Axiophot,  AL/DL/Ph/DIC/Epi-Fl
Zeiss Axiovert 35, DL/Ph/DIC/Epi-Fl
Zeiss Universal Pol,  AL/DL
Zeiss Stemi 2000 C
Nikon Labo-/Optiphot mit CF ELWD Objektiven

Sammlung Zeiss Mikroskope
https://www.mikroskopie-forum.de/index.php?topic=107.0

Klaus Herrmann

#20
Hallo Wilfried,

ZitatTrotzdem wundere ich mich immer wieder wie wenig neues man im REM erfährt wenn am vorher schon am Lichtmikroskop war  

...Wenn mans denn beherrscht!

Bei Werkstoffproblemen ist die "Anamnese" die halbe Miete. Ein noch so toll ausgerüstetes Institut mit guten Experten wird nie voll befriedigende Ergebnisse erarbeiten (wenn komplexe Verhältnisse zum Werkstoffproblem geführt haben) ohne, dass sich der Operator kundig gemacht hat über Umfeld und Historie des versagten/defekten Teils. Obwohl es Zeit kostet sind meine Analytiker immer in den Betrieb gegangen, wenn es kein Routinefall war.
Und der Blick durchs Stemi ist immer der Start, dann erst kommt das Lichtmikroskop mit allen Kontrastvarianten zum Einsatz. Und wenn man dann noch chemische Infos braucht: das IR-Mikroskop und dann erst die großen Kanonen, die aber sehr wohl ihren Beitrag leisten können!

Ein wenig Erfahrung ist auch ganz hilfreich! ;) Wenn man zusätzlich noch den Herstellprozess kennt und weiß, was schon mal da war, dann gehts schneller!
Mit herzlichen Mikrogrüßen

Klaus


ich ziehe das freundschaftliche "Du" vor! ∞ λ ¼


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