Reflektions-Standards für die Auflicht-Mikroskopie

[Holger Adelmann]

Um im Auflicht absolute Reflektivitäten zu bestimmen, muss die Reflektivität der zu untersuchenden Phase mit der (kalibrierten und somit bekannten) absoluten Reflektivität von Standards verglichen werden, und zwar bei verschiedenen Wellenlängen (typischerweise zwischen 400 und 700 nm).

Diese kalibrierten Standards müssen eine wichtige Eigenschaft aufweisen, damit sie benutzt werden können: Das Material muss weitestgehend inert, d.h. chemisch unempfindlich gegenüber normalen atmosphärischen Einflüssen sein, insbesondere darf die Oberfläche nicht oxidieren.

Standards, welche solche Eigenschaften haben und üblicherweise verwendet werden sind zum Beispiel
Siliziumkarbid SiC
Chrom (Metall) Cr 

Die Reflektivität von SiC hat eine relativ geringe Wellenlängen-Abhängigkeit zwischen 19-22%
Die Reflektivität von Chrom ist insgesamt höher und hat auch eine etwas höhere Wellenlängen-Abhängigkeit (s. Bild 1).

Die Berechnung der absoluten Reflektivität der zu untersuchenden Phase berechnet sich nach dem 2. Bild wobei MW = aktueller Messwert bei eine bestimmten Wellenlänge



Siehe auch hier:
https://www.mikroskopie-forum.de/index.php?topic=39801.0

[Rawfoto]

Guten Morgen Holger

Sehr spannendes Thema, ich sehe aber leider nur Bild 2, Bild 1 ist für mich nicht sichtbar.

Toll das du gerade so viel postest, danke.

Freundliche Grüße

Gerhard