Mikroskopie unter Drogen: LSD-Rausch mit Jamin-Lebedeff-Kontrast

Begonnen von Peter V., Juni 19, 2020, 14:15:09 NACHMITTAGS

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hugojun

#15
Hallo Olaf ,
dies habe ich mich auch schon gefragt und an andere Stelle schon mal kritisiert, kann es aber auf die Schnelle nicht wiederfinden.
Ich hatte/ habe Probleme mein Refraktometer zu justieren. Damals habe ich zur Kontrolle die Objektträger und die Sphären des U-Tische gemessen. Dabei hatte ich erhebliche Abweichungen im Brechung Index, schon bei der dritten Stelle.
Wenn man sich die gesamte Tabelle anschaut und die Summen und Differenzen vergleicht, erschleicht mich eine gewisse Ungläubigkeit, denn trotz verschiedener n-Werte am Ende die Differenzen alle übereinstimmen, als ob man an den Werten manipuliert hätte?
   
                 Wellenlänge               
              nc              nd              ne              nF            nF-nc   Nut Tiefe        Abbe Zahl
SN Träger      656,3      587,56       546,07       486,13                       µm   
621043   1,51630   1,51870   1,52070   1,52440   0,00810      12,5615         64,0370
621061   1,51191   1,51431   1,51631   1,52001   0,00810      18,9426         63,4951
621048   1,51339   1,51579   1,51779   1,52149   0,00810      27,7485         63,6778
                     
Max           1,51630   1,51870   1,52070   1,52440   0,00810                      64,0370
Min           1,51191   1,51431   1,51631   1,52001   0,00810                       63,6778
Diff.           0,00439   0,00439   0,00439   0,00439   0,00000                        0,3593


Gruß
Jürgen

olaf.med

Hallo Jürgen,

jetzt hab' ich's kapiert, nachdem ich die Originaltabelle angesehen habe. Es sind tatsächlich unterschiedliche Gläser. Meine Verwunderung über die erhebliche Abweichung bleibt aber bestehen.

Olaf
Gerne per Du!

Vorstellung: http://www.mikroskopie-forum.de/index.php?topic=4757.0

... und hier der Link zu meinen Beschreibungen historischer mineralogischer Apparaturen:
https://www.mikroskopie-forum.de/index.php?topic=34049.0

derda

#17
Hallo Olaf,

das ist der Prüfschein für die drei Objektträger. In dem Objektträger befindet sich eine genau vermessene Rille (Tiefe). Wenn der Brechungsindex des Glases sowie Rillentiefe bekannt sind, kann der Brechungsindex des Mediums in der Rille interferometrisch bestimmt werden.

In der Messzelle des Spindeltisches von CZJ sind diese Rillen ebenfalls vorhanden.

Zum Vergleich die Messergebnisse meines Sets:

Fabrikationsnummer   526106   625091   625094
Brechungsindex nc   1,5109   1,5109   1,5109
Brechungsindex nd   1,5133   1,5133   1,5119
Brechungsindex ne   1,5153   1,5153   1,5139
Brechungsindex nF   1,5190   1,5190   1,5176
Tiefe der Nut [µm] d   14,456   15,473   9,7498

Viele Grüße,

Erik

ps: hatte ich wohl geantwortet nachdem schon geantwortet worden war

hugojun

Hallo Erik ,

zwei Gläser entsprechen dem meiner Träger .
Das dritte Glas ist  mit 76,4 Abbe eher ein PK51

              nc              nd              ne               nF            nF-nc   Nut Tiefe   Abbe Zahl
SN Träger     656,3    587,561    546,074    486,133                  µm   
526106   1,51090   1,51330   1,51530   1,51900   0,00810   14,4560   63,3704
625091   1,51090   1,51330   1,51530   1,51900   0,00810   15,4730   63,3704
625094   1,51090   1,51190   1,51390   1,51760   0,00670   9,7498   76,4030

Gruß
Jürgen

wilfried48

Hallo,

wie misst man eigentlich die angegebene Nuttiefe auf Bruchteile von nm ?
Da ist man doch schon im Bereich der Atomabstände und jede Oberflächenadsorptionsschicht macht schon was aus.

viele Grüsse
Wilfried
vorzugsweise per Du

Hobbymikroskope:
Zeiss Axiophot,  AL/DL/Ph/DIC/Epi-Fl
Zeiss Axiovert 35, DL/Ph/DIC/Epi-Fl
Zeiss Universal Pol,  AL/DL
Zeiss Stemi 2000 C
Nikon Labo-/Optiphot mit CF ELWD Objektiven

Sammlung Zeiss Mikroskope
https://www.mikroskopie-forum.de/index.php?topic=107.0

derda

Guten Abend,

@Jürgen: das ist interessant, es scheint sich also nicht um Einzelseriennummern sondern um Chargen zu handeln. Das hätte ich nicht erwartet.

@Wilfried: hatte vergessen die Messunsicherheit mit anzugeben: Messunsicherheit für n=0,0002 für d=d*0,0005. Man kann die Tiefe über zwei Messungen mit einem Medium mit bekannten Brechungsindex bestimmen. Eines davon kann auch Luft sein.

Viele Grüße,

Erik


Wes

Hallo Peter,

Sehr schöne Bilder! Ich hoffe, es ist in Ordnung, wenn ich ein paar meiner JL-Fotos hier veröffentliche, anstatt einen separaten Thread zum gleichen Thema zu erstellen. Wenn Sie damit nicht einverstanden sind, lassen Sie es mich wissen, und ich werde sie entfernen.




Staubfaser in Wasser




Öltröpfchen auf einem Objektträger aus Glas




Navicula lyra




Pediastrum




LSD-Landschaft (Bakterien-DNA mit Verunreinigungen)



Mit freundlichen Grüßen

Wes

wilfried48

Hallo Erik,

das wären dann aber bei 10µm Nuttiefe eine Messunsicherheit von 5nm. Wieso gibt dann Zeiss Jena 4 Stellen hinter dem Koma an, wo doch schon die 3. gewaltig unsicher ist ) ?

viele Grüsse
Wilfried
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hugojun

Hallo Wilfried, Erik, Jürgen
Auszugsweise ein Messbeispiel mit Messunsicherheit laut diesem Prospekt:

https://www.mikroskop-online.de/mikroskope/download/Mikroskop-Bedienanleitungen-Druckschriften-Carl-Zeiss-Jena-Mikroskopen/30-305-1.A%20%20Interferenzmikroskopie.pdf.



Vielleicht hilft ´s die Angaben auf dem Test Protokoll zu verstehen.

Gruß
Jürgen

wilfried48

Hallo Jürgen,

da wird ja nur auf den statistischen Maximalfehler der Einzelmessung eingegangen und der Wert für die Nuttiefe mit 10,519 ohne Fehler eingesetzt. Wenn man die in der Tabelle angegebene Messunsicherheit von d * 0,0005 also ca. 5 nm einsetzt ergibt sich aber schon ein systematischer Fehler der grösser ist als der statistische Maximalfehler und sich in der vierten Stelle der Brechungsindexmessung deutlich auswirkt.
Umso unverständlicher ist es für mich, dass man in der Tabelle des Prüfprotokolls die Nuttiefe sogar auf die vierte Stelle hinter dem Komma also im Bereich von Atomlagen angibt.
Eine seriöse Angabe für die Nuttiefe wäre d= xx,xxx µm +- 0,00x

viele Grüsse
Wilfried
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hugojun

Hallo Wilfried,
wenn d in µm angegeben ist , dann sind 0,0005µm doch 0,5nm, oder?

Gruß
Jürgen

olaf.med

Lieber Jürgen und Erik,

die angegebenen "Seriennummern" sind mit großer Wahrscheinlichkeit die Schmelznummern des Glasherstellers (sicher Schott). Trotz gleichen Mischungsverhältnisses der Ausgangsstoffe differieren die fertigen Gläser geringfügig, daher werden alle Chargen individuell gemessen und die Werte den Rohgläsern beigegeben. Was mich nur wunderte ist, dass die Werte für BK7 bei Jürgens Gläsern (BK7) bereits in der dritten Nachkommastelle deutlich differieren. Ich hätte erwartet, dass die Differenzen frühestens in der vierten Nachkommastelle auftreten.

Herzliche Grüße,

Olaf
Gerne per Du!

Vorstellung: http://www.mikroskopie-forum.de/index.php?topic=4757.0

... und hier der Link zu meinen Beschreibungen historischer mineralogischer Apparaturen:
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hugojun

#27
Hallo Olaf,
wie gesagt, mir erscheint das wie ein Algorithmus, um am Ende eine konstante Dispersion zu bekommen.
Oder ist das der Beweis für korrekte Messung?
Die Dispersion ist ja bis in die 5. Stelle konstant. Auch die Träger unter sich haben gleiche Abweichungen von min. zu max. bis in die 5.Stelle konstant.
Sehr seltsam.
Es würde aber Sinn machen, da ich mit diesen Gläsern mein Refraktometer nicht geeicht bekomme.

Gruß
Jürgen

olaf.med

Hallo Jürgen,

gefühlsmäßig würde ich den Messwerten der namhaften Firmen trauen. Dass die Dispersionen gleich sind wundert mich überhaupt nicht. Geringe Abweichungen im Chemismus führen nur zur Parallelverschiebung der Dispersionskurve, wodurch die Abbe-Zahl nicht beeinflusst wird.

Herzliche Grüße, Olaf
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wilfried48

Zitat von: hugojun in Juni 21, 2020, 15:05:05 NACHMITTAGS
Hallo Wilfried,
wenn d in µm angegeben ist , dann sind 0,0005µm doch 0,5nm, oder?

Gruß
Jürgen

ja aber in der Tabelle steht doch Unsicherheit für d=d*0,0005 also musst du die 0,5nm doch noch mit d multiplizieren und dann kommt du bei d=10,519 µm auf etwas mehr als 5 nm.

Gruß
Wilfried
vorzugsweise per Du

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